Порядок выполнения работы
Ю.А. Брусенцов, В.А. Пручкин, И.С. Филатов
МАТЕРИАЛЫ ЭЛЕКТРОННОЙ ТЕХНИКИ
Рекомендовано Учебно-методическим объединением по образованию в области радиотехники, электроники, биомедицинской техники и автоматизации
в качестве лабораторного практикума
Издание второе, стереотипное
Тамбов Издательство ФГБОУ ВПО «ТГТУ»
УДК 621.396.6 ББК Á813я73-5 Б892
Р е ц е н з е н т ы :
Доктор физико-математических наук, профессор ТГУ им. Г.Р. Державина
В.А. Федоров
Кандидат физико-математических наук, доцент кафедры физики ФГБОУ ВПО «ТГТУ»
А.М. Савельев
Брусенцов, Ю.А.
Б892 Материалы электронной техники : лабораторный практикум / Ю.А. Брусенцов, В.А. Пручкин, И.С. Филатов. – 2- е изд., стерео-тип. – Тамбов : Изд-во ФГБОУ ВПО «ТГТУ», 2011. – 44 с. – 100 экз.
Содержит указания к выполнению лабораторных и практических ра-бот по изучению структуры, механических, электрических и магнитных свойств металлов и сплавов. Позволит разобраться студентам в методах прогнозирования свойств металлических и неметаллических материалов с помощью равновесных диаграмм состояния, а также по изменению их структуры с помощью различных видов термообработки.
Лабораторный практикум предназначен для студентов 1 – 3 курсов специальностей 210201, 210303, 210200, 140106, 140211 дневной и заочной форм обучения.
УДК 621.396.6 ББК Á813я73-5
© Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего
профессионального образования «Тамбовский государственный технический университет» (ФГБОУ ВПО «ТГТУ»), 2011
ВВЕДЕНИЕ
Интенсивное развитие электроники связано с появлением новых раз-нообразных полупроводниковых приборов и интегральных микросхем, которые находят широкое применение в вычислительной технике, космо-навтике, автоматике, радиотехнике, телевидении, в установках измери-тельной техники, медицине, биологии и др. В настоящее время число на-именований материалов, применяемых в электронной технике для раз-личных целей, составляет несколько тысяч.
При использовании материалов необходимо знание комплекса их свойств, позволяющих использовать их при различных условиях эксплуа-тации. Нередко перед конструкторами и технологами возникают и бо-лее сложные задачи по созданию материалов с заранее заданными свойст-вами.
В электронной промышленности для изготовления полупроводнико-вых приборов и интегральных микросхем широко используются как тра-диционные полупроводники, металлы и сплавы, так и новые материалы, специально разработанные для полупроводниковой технологии.
Основной задачей настоящего лабораторного практикума является освоение методик измерения основных характеристик материалов элек-тронной техники и умение определять их свойства и область приме-нения.
Лабораторная работа 1
МИКРОСКОПИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ МЕТАЛЛОВ И СПЛАВОВ
Цель работы:ознакомиться с методами микроанализа структуры ме-таллов и сплавов. Изучить структуру чистых металлов и различных типов твердых сплавов.
Приборы и принадлежности:оптические микроскопы,металлогра-фические шлифы.
Методические указания
Из 106 элементов периодической системы Д.И. Менделеева 82 – ме-талла. Поэтому изучение их структуры и свойств так важно для практиче-ских целей в электронной технике.
Металлы обычно являются кристаллическими телами или кристал-лами. Кристаллом называют бесконечное упорядоченное расположение атомов в пространстве. Все кристаллические материалы обладают анизо-тропией – зависимостью свойств материала от направления в нем. Это объясняется тем, что в каждом направлении в кристалле расстояние меж-ду атомами или молекулами строго определенное, а значит и силы взаи-модействия между ними в каждом случае различные.
Реальные кристаллы содержат большое количество нарушений в упорядоченном расположении атомов. Поэтому чаще встречаются не моно-, а поликристаллы (рис. 1, а), которые состоят из большого количе-ства зерен, в которых одна и та же кристаллическая решетка (показана штриховкой) ориентирована в пространстве по-разному.
Для проведения микроанализа образец разрезают (плоскость разреза А-А) и на одной из его половин шлифовкой и полировкой приготавлива-ют шлиф (рис. 1, б). Его поверхность гладкая и чаще всего не показывает
А А
Рис. 1. Микроанализ поликристаллического материала:
а –схема поликристалла(1 –зерна или кристаллиты, 2 –границы зерен); б –полированный шлиф; в –отражение света от травленого шлифа
структуры металла. Для выявления структуры шлиф подвергают дейст-вию специального реактива – травителя, состав которого зависит от изу-чаемого материала и цели металлографического исследования. Обычно травители – растворы кислот, щелочей или солей. В процессе травления скорость и характер растворения разных зерен шлифа будет разной из-за анизотропии, так как они выходят на поверхность шлифа разными на-правлениями.
Границы зерен – это дефект кристалла, где атомы более активны и легче растворяются. Поэтому на границах зерен в поликристалле шлиф будет растравливаться сильнее (рис. 1, в).
При освещении травленой поверхности лучи света будут по-разному отражаться от ее рельефа. Поэтому при наблюдении шлифа в отраженных
лучах мы увидим светлые и темные зерна,
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
| отделенные друг от друга темными полоска-
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
| ми границ (рис. 2).
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
| Чаще всего размер зерен в современ-
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
| ных металлах и сплавах не превышает
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
| 10…100
| мкм (0,01…0,10 мм). Это гораздо
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
| меньше разрешающей способности челове-
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
| ческого глаза (0,3 мм). Поэтому металлогра-
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
| фический анализ обычно проводят с помо-
|
| Рис. 2. Структура
|
| щью оптического микроскопа, схема которо-
|
|
| го представлена на рис. 3.
|
| поликристалла
|
| Свет от лампы 1 попадает в конден-
| однофазного сплава
|
| сор 2, формирующий яркий равномерный
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
| пучок, который
| затем отражается от полу-
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
| 5
|
|
| прозрачного зеркала 3, проходит через объ-
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
| ектив 4 и фокусируется на объекте 5. Полу-
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
| ченное изображение поверхности (в отра-
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
| 4
|
|
| женных
| лучах)
| увеличивается объективом,
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
| 2
|
|
|
|
|
|
|
| 1
|
|
|
|
|
|
| проходит
| через
| полупрозрачное зеркало и
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
| 3
|
|
|
|
| попадает в окуляр 6. Окуляр дополнительно
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
| увеличивает изображение и проецирует его в
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
| глаз оператора.
|
|
|
|
|
| 6
|
|
|
|
| Увеличение микроскопа можно опреде-
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
| лить по формуле
| M м = M об ´ M ок , где Моб и
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Мок–увеличение объектива и окуляра.
Для получения изображения необходи-мо установить изучаемый шлиф на предмет-ный стол микроскопа полированной поверх-ностью в сторону объектива. Включить мик-роскоп тумблером на блоке питания. По-смотреть в окуляр микроскопа и, вращая ру-
Рис. 3. Схема микроскопа на отражение:
1 –источник света;
2 –конденсор;
3 –полупрозрачное зеркало;
4 –объектив; 5 –объект;
6 –окуляр
коятку грубой настройки резкости микроскопа, приблизить объектив к шлифу до появления изображения. Получить резкое изображение с помо-щью рукоятки тонкой настройки. При изучении шлифа перемещать образец
с помощью винтов предметного стола.
В технике применяют обычно не чистые металлы, а сплавы, в состав которых входят два и более компонентов (элементов). В зависимости от
химического состава и условий производства сплавы могут состоять из одной или нескольких фаз.
Фаза–это однородная часть сплава,отделенная от других поверхно-стью раздела, при переходе через которую кристаллическая решетка, хи-
мический состав и свойства резко изменяются.
Фазовый состав сплавапоказывает:
· какие фазы в него входят;
· химический состав каждой фазы;
· количество каждой фазы.
Структура сплавапоказывает форму,размеры и взаимное располо-жение зерен каждой фазы в материале.
Только зная фазовый состав и структуру сплава, можно точно предсказать и объяснить его свойства!
Рассмотрим различные структуры, которые может иметь технически чистый металл на стадиях его металлургического передела (рис. 4).
После выплавки и заливки в форму начинается затвердевание метал-ла. При кристаллизации также проявляется анизотропия – зародыши обра-зуются не круглой равноосной формы, а в виде иголочек в направлении, где его скорость роста максимальна. В кристаллах с кубической решет-кой – это обычно направление ребра куба. Спустя некоторое время на об-разовавшихся иглах появляются «ветки» – отростки в направлении друго-го ребра куба. Такие кристаллы называют дендритами («dendros» – дере-во). Полученная структура литого металла (рис. 4, а) имеет высокую не-однородность химического состава – все вредные примеси собираются между дендритами, резко охрупчивая металл.
а) б) в) г)
Рис. 4. Структуры передела металла:
а –литой; б –отожженный; в –деформированный; г –после рекристаллизации
Для улучшения качества слитки подвергают выравнивающему (го-могенизирующему) отжигу при температуре, близкой к температуре плавления, t = (0,7…0,8) tпл . Такой нагрев активизирует диффузию ато-мов, и они располагаются равномерно по всему объему. Одновременно при этом образуется крупное равноосное зерно в структуре отожженного металла в виде правильных многогранников (рис. 4, б).
Для придания металлу необходимой формы (с поперечным сечением в виде круга, квадрата, прямоугольника, двутавра и др.) слиток подверга-ют пластической деформации. При этом меняется структура металла: при холодной пластической деформации зерна вытягиваются и утоняются, превращаясь в волокна (рис. 4, в).
Для улучшения комплекса механических и технологических свойств металл после пластической деформации подвергают повторному отжигу (рекристаллизационному) при более низкой температуре. При этом форми-руется мелкозернистая структура отожженного металла (рис. 4, г), кото-рая обеспечивает хорошую обрабатываемость резанием.
Таким образом, в зависимости от состояния металла (стадии его пе-редела) структура меняется, что вызывает изменение его свойств. Очень часто при микроанализе ставится вопрос – описать структуру сплава. При этом необходимо перечислить все структурные составляющие и указать фазы, из которых они состоят (обычно это пишут на рисунке структуры сплава на выносных линиях).
П р и м е р :Задание:описать структуру технически чистого метал-ла A, изображенную на рис. 2. Ответ: структура технически чистого ме-талла состоит из равноосных зерен фазы A.
Порядок выполнения работы
1. Изучить устройство светового металлографического микроскопа. Научиться пользоваться рукоятками грубой и тонкой настройки резкости
и микровинтами перемещения предметного стола.
2. Изучить и зарисовать структуру предложенных металлов и спла-
вов.
Результаты микроанализа
| №
| Марка металла
| Химический
| Состояние
| Тип сплава в
|
| шлифа
| или сплава
| состав
| металла
| твердом состоянии
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
3. Определить их металлургическое состояние, сравнивая с образ-цами на рис. 4. Занести результаты микроанализа в табл. 1.
4. По результатам микроанализа и химическому составу образцов указать тип сплава в твердом состоянии для каждого шлифа в табл. 1.
В зависимости от того, какие компоненты входят в сплав, насколько
они близки по свойствам, насколько сильно они взаимодействуют между собой, различают три основных типа сплавов в твердом состоянии:
·Твердый раствор–это:
а) однофазный сплав, у которого одна кристаллическая решетка; б) его кристаллическая решетка похожа на один из компонентов
сплава; в) его свойства похожи на один из компонентов сплава;
г) он обозначается греческой буквой (a, b, g, …).
Структура отожженного твердого раствора показана на рис. 2.
Не нашли, что искали? Воспользуйтесь поиском по сайту:
©2015 - 2024 stydopedia.ru Все материалы защищены законодательством РФ.
|